欢迎访问航天云网    注 册登 录    关于航天
三院303所可靠性中心程序开发取得新进展
发布时间:2015-06-05

近期,中国航天科工三院303所元器件可靠性中心为了解决型号用无法筛选的集成电路检测问题,结合新引进的T2000超大规模集成电路测试系统及STS8205数模混合电路测试系统,大力加强测试程序开发工作力度。  

  中心骨干技术人员加班加点通过集成电路测试技术和测试方法研究,不断的学习摸索,突破测试难点。同时积极进行测试适配器的设计与制作,从电路系统原理图的输入、数字、模拟及混合电路仿真、布局、布线到印刷电路板生成后的适配器的焊接,经过近两个月的不懈努力,目前已完成近50个各类集成电路的测试程序开发工作。此外,还积极开展国内无法检测筛选的动态存储器SDRAM测试程序开发工作,目前已在T2000上完成三种SDRAM测试程序的开发,并完成十多批、近2000只SDRAM的复验筛选工作,为三院型号用集成电路可靠性保障工作提供更多更好的技术服务和支持。(文/张金凤)

发布时间:2015年06月04日文章来源: 中国航天科工三院